偏心シャフト用インプロセスゲージシステム

Fenar Xは、回転軸を中心とした軌道全体を通して、偏心径の測定値を継続して監視するのに使用することができます。このシステムは、研削工程を監視して関連する情報を研削盤に送信し、研削盤で望ましいワーク径が得られるまで加工サイクルを管理することができます。  

Fenar Xは、柔軟性が極めて高く、高速回転時（300 rpm）も安定した測定を保証します。ゲージによって生成される信号は、最高クラスの処理速度（0.5 msec間隔のサンプリング）を保証する電子制御ユニットに送信されます。