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Système de mesure in-process pour arbres excentriques

FENAR™ X

Dans le domaine de l'inspection d'arbres excentriques, le système Fenar X a été conçu pour mesurerles diamètres excentriques lisses. Par sa forme compacte, sa simplicité et sa flexibilité, ce système de mesure représente la solution idéale pour tout type de problème d'application touchant les rectifieuses orbitales modernes pour arbres excentriques.

Système de mesure in-process pour arbres excentriques
DESCRIPTION

Par sa configuration mécanique, le Fenar X permet de surveiller en continu la mesure de diamètre excentrique sur toute son orbite autour de l'axe de rotation : le système surveille le processus d'enlèvement de matière et fournit l'information à la rectifieuse, en lui permettant ainsi de gérer le cycle d'usinage jusqu'au point d'obtention du diamètre de pièce souhaité.

Fenar X est extrêmement flexible et garantit une stabilité de mesure à de hautes vitesses de rotation (300 tr/min). Les signaux générés par le mesureur sont envoyés à une unité de commande électronique qui garantit la vitesse de traitement maximale (un échantillon toute les 0.5 ms).

AVANTAGES
  • Meilleure qualité de production (moins de rebuts)
  • Mesure de haute précision
  • Forme compacte
  • Intégrabilité
  • Grande fiabilité et robustesse
  • Très flexible
CARACTÉRISTIQUES TECHNIQUES

Pour toutes les caractéristiques techniques, veuillez consulter le tableau en section TÉLÉCHARGEMENT

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BROCHURES AND MANUALS

Brochure
Anglais FENAR X: (458.46kB)
Italien FENAR X: (470.88kB)
Allemande FENAR X: (336.11kB)
Français FENAR X: (469.73kB)
Espagnol FENAR X: (469.25kB)
Japonais FENAR X: (375.91kB)
Chinoise Simplifié FENAR X: (577.19kB)

TECHNICAL DOCUMENTS

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