BESCHREIBUNG
Für mikroskopische Zwecke sind auch chromatisch-konfokale 2D-Kameras erhältlich. Bei Anwendungen, bei denen eine sehr hohe Auflösung und ein großer Tiefenschärfebereich erforderlich sind, bieten sie eine perfekte Fokussierung auf der Z-Achse. Dadurch sind die die richtige Lösung zur Prüfung auf Defekte, beispielsweise am Rand der Wafer und während des Verpackungsprozesses. Alle diese verschiedenen Sensoren können in Mess- und Prüfmaschinen integriert werden. Marposs und STIL stellen ihre jahrzehntelange Erfahrung zur Verfügung, um genau die richtige, auf Sie zugeschnittene Lösung und das entsprechende optische Design zu finden.
NUTZEN
- Mindeste laterale Auflösung 0,4μm * 0,4μm
- Hoher Neigungswinkel: +/-45&Grad; mit einer NA von 0,75
- Bis zu 199.500 Linien pro Sekunde
- Erweiterte Tiefenschärfe (des perfekten Fokus)
Download
PROSPEKTE UND HANDBÜCHER
Prospekt | Datenblatt | |
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Englisch |
SEMICONDUCTORS: (2.27MB)
STIL - General catalogue: (13.23MB) |
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Italienisch |
SEMICONDUCTORS: (2.63MB)
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Deutsch |
SEMICONDUCTORS: (2.28MB)
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Russisch |
SEMICONDUCTORS: (2.23MB)
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Japanisch |
STIL - General catalogue: (21.22MB)
SEMICONDUCTORS: (2.38MB) |
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Koreanisch |
SEMICONDUCTORS: (7.41MB)
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Vereinfachtes Chinesisch |
SEMICONDUCTORS: (5.06MB)
STIL - General catalogue: (18.78MB) |
STIL - General catalogue: (18.78MB)
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