描述
为了显微测量,马波斯提供2D光谱共焦线扫相机。
在超高分辨率和超大景深应用中,可在Z轴上准确聚焦。
因此,这是检测圆晶缺陷的理想选择,例如,圆晶沿的检测和封装期间的检测。
这些传感器都允许集成在测量和检测设备中。
马波斯STIL在数十年的发展中积累了丰富的经验,可为用户提供量身定制解决方案和专用的光学设计。
优势
- 最小横向分辨率0.4μm * 0.4μm
- 大倾斜角:+/-45°,0.75数值孔径
- 多达199.5 k线/秒
- 超大景深(准确聚焦)
下载
BROCHURES AND MANUALS
产品资料 | 数据表 | |
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英语 |
SEMICONDUCTORS: (2.27MB)
STIL - General catalogue: (13.23MB) |
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意大利语 |
SEMICONDUCTORS: (2.63MB)
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德语 |
SEMICONDUCTORS: (2.28MB)
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俄语 |
SEMICONDUCTORS: (2.23MB)
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日本语 |
STIL - General catalogue: (21.22MB)
SEMICONDUCTORS: (2.38MB) |
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韩国语 |
SEMICONDUCTORS: (7.41MB)
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中文 (Simplified Chinese) |
SEMICONDUCTORS: (5.06MB)
STIL - General catalogue: (18.78MB) |
STIL - General catalogue: (18.78MB)
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