마그네트 전기선의 에나멜 코팅 두께 측정
몇몇 연구에 따르면 일부 유형의 모터에서 사각 와이어 헤어핀 권선을 사용하면 상당한 이점이 있음이 밝혀졌습니다. 장점은 훨씬 더 높은 구리 슬롯 충전 계수로 발열을 줄이고 토크 및 전력 밀도를 개선하여 궁극적으로 EV 애플리케이션의 모터 크기를 줄일 수 있습니다.
그러나 이러한 성능 향상을 얻으려면 구성 부품의 적절한 품질 수준을 보장하고 해당 구성 부품의 생산 공정이 완벽하게 관리되어야 합니다.
절연 에나멜의 두께 측정은 에나멜 와이어 생산에 있어 중요한 매개 변수 중 하나입니다. 일정하고 균일한 두께는 사실상 전기 절연의 품질 및 효과와 관련이 있을 뿐만 아니라 후속 공정의 헤어핀 벤딩 공정에도 영향을 미칠 수 있습니다.
공초점(Chromatic confocal) 기술은 백색광을 이용하여 마그네틱 와이어의 에나멜 코팅(일반적으로 투명한) 두께를 측정할 수 있습니다. 불투명한 코팅 (흰색 빛에 투과되지 않는)의 경우 IR 간섭계 센서를 옵션으로 사용하여 동일한 측정을 수행할 수 있습니다
공초점 센서가 장착된 전용 측정기를 이용하여 측정실에서 측정 검사에 사용할수 있습니다. 생산공정에서 취득한 와이어 샘플제품의 에나멜 두께를 오프라인으로 측정할 수 있습니다. 에나멜 코팅 작업은 일반적으로 시간이 많이 소요되는 공정이며 샘플을 주기적으로 검사하는 오프라인 검사를 통해 관리할 수 있습니다.
인라인 센서는 생산중에 연속 측정이 될 수 있도록 구성이 가능합니다. 두 개의 센서가 조립된 측정그룹(포크)의 구성은 와이어의 전체 두께와 함께 와이어 표면에 에나멜 두께를 연속적으로 측정할 수 있습니다. 또한, 90° 방향에 위치한 다른 측정그룹(포크)를 사용하여 에나멜 와이어의 4개 면을 모두 측정할 수 있습니다
이와 유사한 기술은 헤어핀 생산의 다음 공정에서 헤어핀 단자가 벗겨지는 와이어의 품질을 확인하는 데 사용될 수 있습니다
레이저(Laser ablation) 방식 에나멜 제거 공정 적용 시에는 레이저 헤드의 수와 방향에 따라 에나멜의 얇은 층이 특정 부위에 남아 있는 경우가 발생할 수 있습니다. 이 경우 간섭계(Interferometric) 기술을 사용하면 수 미크론 두께부터 시작하여 잔여 에나멜의 두께를 측정할 수 있습니다.
백색광 간섭계(Interferometer)를 사용하여 레이저방식 에나멜 제거 공정의 샘플링 자주검사를 할 수 있습니다. 잔여 에나멜이 집중된 위치를 알고 있으면 100% 공정관리를 위하여 백색광 간섭계 기술을 자동화 라인(In-line)에 적용할 수 있습니다.
다른 경우에는 레이저로 태워버린 후 에나멜 잔류물과 같은 결함과 오염물질을 찾기 위하여 에나멜이 제거된 표면 전체를 검사해야 할 수도 있습니다. MPLS 제품군과 함께 선형 광학 센서에 적용된 STIL confocal 기술을 사용하면 높은 초점 영역을 보장하므로 벗겨진 전체 영역에 대한 자동화(In-line) 분석을 수행할 수 있으며, 다양한 결함 유형을 식별할 수 있습니다.
- 플랫 와이어의 전체 치수 측정 (상하좌우 두께 및 네 면의 두께 코팅 측정)
- 에나멜 코팅 공정 제어
- 헤어핀 벤딩 후 스프링백 제어 불능으로 인한 문제 예방
- 자주 검사(Off-line) 또는 전수 검사(In-line)에 사용 가능한 솔루션
- 공초점 센서를 이용한 에나멜 두께 측정
- IR 간섭계를 이용한 에나멜 두께 측정 (백색광에 투명하지 않은 불투명 코팅)
- 백색광 간섭계 센서를 이용한 잔여 에나멜 두께 측정
- 피복이 벗겨진 부위의 결함검사를 위한 공초점 광학식 라인 센서 (Confocal optical line sensors MPLS )
- 동일한 측정 스테이션에서 여러 센서기술을 통합가능
Defined according to customer’s requirements.
