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接触式与光谱共焦非接触式相结合的复合测量方案

P3CF™

P3CF™测量方案结合了传统的接触式测头与光谱共焦非接触式测头两种测量技术（复合测量）。P3CF™可直接测量各类材料的距离，也可测量可透过白光的材料的厚度。

Hybrid measurement with chromatic confocal technology
描述

P3CF™技术是高性价比的厚度测量方案，，即使材料透明度无保证也可正常测量，优化生产过程。马波斯创新的测量技术通过计算参考面与同参考表面上目标位置之间的距离差，间接计算出厚度值。P3CF™可同时管理多达四个接触式测头和两个非接触式光谱传感器测头，可在包括粗加工和精加工的多轴测台上同时测量厚度。这样的高柔性设计允许将非接触式测量只用于生产制造的最后阶段，避免接触目标部位

优势
  • 可非接触式测量任何白光可通过的材料的厚度
  • 可非接触式测量距离，适用于任何不允许接触目标工件部位的测量
  • 可接触式测量距离，在粗加工期间或未抛光的目标部位上测量时，测量可靠性更高
  • 可进行复合测量，结合了接触式和非接触式测量
  • 可动态测量，在断续表面上测量
  • 可通过SDK和协议指令，轻松集成到任何系统中
  • 可通过编码器相对轴位同步测量 
技术规格

 

  • IP68测头，可在恶劣环境中测量
  • IP40测头，可在干净环境中测量
  • 可连接多达4个接触式测头和2个非接触式测头
  • 测量采样频率达2KHz
  • 测量软件可用于多种方式组合的测头测量
  • 人机界面允许操作员编程和采集测量值
  • 协议指令可用于编程和采集测台测量值
版本
  • 非接触式-仅限配备1个光谱传感器的方案
  • 非接触式-仅限配备2个光谱传感器的方案
  • 复合方案，其中含1个光谱传感器和多达2个UNIMAR测头
  • 复合方案，其中含1个光谱传感器和多达4个UNIMAR测头
  • 复合方案，其中含2个光谱传感器和多达2个UNIMAR测头
  • 复合方案，其中含2个光谱传感器和多达4个UNIMAR测头
下载

BROCHURES AND MANUALS

传单
英语 P3CF: (1.43MB)
日本语 P3CF: (1.22MB)
韩国语 P3CF: (1.43MB)
中文 (Simplified Chinese) P3CF: (664.33kB)

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