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STIL光谱共聚焦传感器（厚度粗糙度检测）。STIL司逖, 1993年创始于法国。作为光谱共焦传感器的发明者及全球领先者，STIL为全球各行业（玻璃、医疗、电子、半导体、汽车、航空航天、制表业、新能源等）提供高性能的光谱共焦传感器已超过27年。2019年法国STIL正式加入马波斯集团。其遍布全球的销售和服务网络进一步深化了STIL的销售渠道，优化了STIL的客户服务体系。任何材料的物体，如金属、玻璃、陶瓷、半导体、塑料、织物等，STIL光谱共焦传感器都可轻松测量，且对被测物体表面颜色和光洁度无特殊要求，无论物体表面是漫反射或高光面，甚至镜面。 

NCG非接触式薄壁工件测量系统。NCG是一种基于干涉技术的测厚仪，它将反射在被测物体边界层的光波列引入干涉，计算出被测物体的层厚。该测量仪设计用于控制硅片的厚度，也适用于测量其他材料，如玻璃、蓝宝石或任何其他对红外光透明的材料。

​优点：

• 精度高，测量速度快，可以连接到任何机器上。
• 可用于工作台和机器内部的干燥或潮湿环境。   
• 可用于检查任何工作和零件表面的厚度。NCG算法可以过滤有孔、金属屏蔽和一般来说不可测量区域的零件。