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NDT용 전자 장치

금속 재료의 품질 문제를 해결하기 위한 NDT(비파괴 검사)용 와전류 전자 장치는 표면 결함을 찾아내고 테스트 대상 부품의 재료 속성을 검증하는 데 적합합니다.

NDT용 전자 장치
설명

마르포스의 다양한 비파괴 검사용 전자 장치는 두 가지 라인으로 이루어져 있습니다.

  • 재료 구조(경도) 및 무결성(표면)을 검사하도록 설계된 E59N 및 E70S 전자 장치
  • 무접촉 방식으로 나사산 존재 여부를 검사하도록 설계된 E70T 전자 장치

E59N 및 E70S 전자 장치는 모듈형이며 통합 구조 및 무결성 테스트를 위해 1 ~ 12개 채널을 동시에 관리할 수 있습니다.

E70T 전자 장치는 1 ~ 4개 채널로 구성할 수 있는 모듈형 장치이며 시스템 셋업 작업을 최소화하는 단순한 작업자 인터페이스를 갖추고 있습니다.

다운로드

제품

표면 결함 및 재료 특성 확인을 위한 와전류 프로브 세부내역

NDT 프로브 - 표면 결함 및 재료 특성 확인을 위한 와전류 프로브
와전류를 이용한 품질 검사 전자기기 세부내역

E70S - E59N - 와전류를 이용한 품질 검사 전자기기
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