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非接触式测量纳米级薄膜厚度的测量仪

NCG-R

马波斯 NCGR 厚度测量仪以光反射技术为测量原理,可有效测量多种材料的纳米级薄膜的厚度。

马波斯 NCGR 厚度测量仪可为独立测量设备,也可连接自动化设备,在线管控厚度。不仅适用于成品检测,其测头设计让其即使在恶劣生产条件下工作也能游刃有余,因而可用于产品在机内加工时的实时测量。

非接触式测量纳米级薄膜厚度的测量仪
描述

马波斯NCGR厚度测量仪以光反射技术为测量原理:在不同表面的分界面处,光波发生反射,反射的波形取决于多层薄膜的叠加和各层薄膜的厚度。在多层复合材料上进行训练后,这款测量仪就可测量出厚度仅有数纳米的目标薄膜层的数据。

过去,纳米级厚度测量几乎都需要在加工后进行。而如今,随着机床数控技术的发展,可实现加工的同时进行如此超高精度的测量。 马波斯以数十年所积累的丰富经验为基础为此应用设计开发了专用的测头和软件,可满足产品在机内加工过程中的实时测量要求

优势
  • .提供纳米级薄膜厚度的非接触式测量
  • 加工过程中的实时测量

 

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