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와전류를 이용한 Thread 유무 검사 전자기기

E70T

E70T는 고/노고(Go/NoGo) 전자 측정기로, 금속 소재의 태핑 프로세스 후 사용하기 위한 나사산의 유무를 확인할 수 있으며, 이를 통해 태핑 공구의 파손 또는 기계가공 누락을 즉시 감지할 수 있습니다. E70T는 나사산 구멍에 확실하게 꼭 맞도록 설계된 와전류 프로브를 사용해 비접촉식으로 나사산의 유무를 검사하여 테스트 중인 부품의 마모를 방지합니다. 프로브 사이즈는 M4부터 어떠한 사용자 정의 사이즈까지도 지원 가능합니다.

와전류를 이용한 Thread 유무 검사 전자기기
설명

E70T는 와전류 비접촉식 프로브를 사용하여 태핑 프로세스의 정확성을 확인합니다.

와전류 프로브는 작은 구리 권선 형태이며, 교류로 구동되어 자기장을 생성합니다. 이 자기장은 주변 물질의 영향을 받게 되며 그 변화를 분석하여 다양한 소재 특성을 확인할 수 있습니다. E70T는 나사산의 유무로 인한 자기장 변화를 집중적으로 확인합니다. 일반적으로, 태핑이 되지 않은 구멍의 표면은 평균적으로 태핑된 구멍보다 프로브와의 거리가 더 가깝습니다. 이 차이가 나사산의 유무를 결정하는 데 사용됩니다. 테스트 대상 샘플의 신호를 양품 소재의 신호와 비교하여 차이가 지정된 한계값보다 큰 경우 해당 소재는 불량 처리됩니다.

막힌 구멍의 경우 나사산 유무 검사는 나사산의 가장 낮은 부분에서 수행되며, 열린 구멍의 경우 마지막 나사산에 대해 검사합니다.

와전류를 사용한 나사산 유무 검사는 강철, 주철, 구리, 황동, 청동 등과 같은 모든 전도성 재료에 대해 실행할 수 있습니다. 자기장의 강도는 소재에 잔류 자성을 남기지 않을 정도이므로 나사산 유무 검사 후에 철금속 조각들이 들러붙을 위험이 없습니다.

장점

나사산은 자동차, 항공우주 및 기타 나사 고정 방식으로 부품을 연결하는 데 나사산이 사용되는 사실상 거의 모든 분야에서 존재합니다. 대량 생산 라인 또는 소규모 생산 배치에서 나사산이 누락되면 후속 조립 프로세스가 중단될 수 있으므로 나사산의 유무를 반드시 확인해야 합니다.

E70T는 기계적 특성(직경, 피치, 테이퍼 등)을 측정하는 방법을 고민하기 앞서서 태핑 후에 바로 나사산이 있는지를 확인합니다. 나사산이 누락된 경우, 생산 프로세스가 즉시 중단됩니다. 나사산 누락의 원인은 공구 파손 또는 기계가공 누락인 경우일 수 있으므로, 이러한 중단은 결과적으로 생산 품질의 향상으로 이어지게 됩니다. E70T의 높은 테스트 속도를 통해 복잡한 구조를 가진 소재에 대해서도 동시에 최대 4개의 프로브를 사용하여 나사산의 유무를 확인할 수 있습니다.

기술 사양
  • 1 ~ 4개의 테스트 채널
  • 작동 주파수는 40 kHz ~ 100 kHz 범위 내에서 프로그래밍 가능
  • 전면 판넬에 9개의 소프트키 위치
  • 2줄로 된 16자리 영숫자 디스플레이
  • 12개의 I/O 광절연 신호(입력 4개 – 출력 8개)
  • 24 Vdc 전원 공급 장치
  • 단독 제품의 경우 보호 등급 IP 30
  • 전면 판넬의 판넬 장착부 보호 등급 IP 54
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